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新興PCBA測試技術如何應對更高復雜度的電路板

2025-09-12 08:00:00 徐繼 6

在消費電子、通信和醫(yī)療等領域,產(chǎn)品不斷向更小、更薄、功能更強的方向發(fā)展。這直接導致了PCBA(印刷電路板組件)的設計變得前所未有的復雜。高密度互連(HDI)、任意層互連(Any-Layer)、微型化元器件(如01005、008004)以及復雜的BGA(球柵陣列)封裝已成為常態(tài)。面對這些高復雜度的PCBA,傳統(tǒng)的測試方法已顯得力不從心。幸運的是,一系列新興的測試技術正在應運而生,為PCBA加工的質量控制提供了新的解決方案。


pcba


傳統(tǒng)測試的局限性

 

傳統(tǒng)的PCBA測試主要依賴于ICT(在線測試)和FCT(功能測試)。ICT通過物理探針接觸板上的測試點,檢測元器件的開路、短路和電性參數(shù)。然而,隨著電路板密度的增加,PCB上預留測試點的空間越來越小,甚至根本沒有。FCT雖然能驗證PCBA的功能,但它只能判斷板卡的“好”或“壞”,無法定位具體的缺陷,且測試時間較長。這兩種方法都難以有效地應對高密度、高復雜度的PCBA加工帶來的挑戰(zhàn)。

 

新興測試技術:更高復雜度的解決方案

 

為了確保高密度PCBA的質量,行業(yè)正在廣泛采用以下幾種新興測試技術:

 

1. 3D-SPI與3D-AOI:從源頭控制質量

 

PCBA加工流程中,錫膏印刷是決定焊點質量的第一步。3D-SPI(三維錫膏檢測)技術使用激光或條紋光掃描,可以精確地測量每個焊盤上錫膏的高度、體積和面積。這比傳統(tǒng)的二維檢測更為全面,能有效預防虛焊、連錫等問題。

 

緊隨其后,3D-AOI(三維自動光學檢測)技術則能對貼裝后的PCBA進行全面的三維掃描。它不僅能檢查元器件是否貼裝正確、是否遺漏,還能檢查引腳是否浮空,甚至能通過三維成像重建焊點的形狀,從而更準確地判斷焊點質量。

 

2. AXI:無損穿透式檢測

 

對于BGA、LGA等封裝底部隱藏焊點的元器件,傳統(tǒng)的AOI無法檢測。AXI(自動X射線檢測)技術則能完美解決這個問題。它利用X射線的穿透性,對PCBA進行內(nèi)部掃描,生成高分辨率的圖像。操作員可以通過圖像清晰地看到焊點內(nèi)部的空洞情況、焊球的形狀和連錫等缺陷。AXI是一種無損檢測方法,特別適用于那些對可靠性要求極高的PCBA加工場合,如軍工、醫(yī)療和汽車電子。

 

3. 飛針測試:靈活且成本低廉

 

飛針測試(Flying Probe Test)無需制作昂貴的測試夾具,其測試探針由機械臂控制,可以靈活地移動到PCBA上的任何位置進行測試。這使其特別適合于小批量、多品種的PCBA加工需求,以及那些沒有預留測試點的高密度電路板。雖然飛針測試的速度相對較慢,但其靈活性和較低的成本,使其成為高復雜度PCBA測試的有效補充。

 

結論:技術融合與未來展望

 

面對越來越復雜的設計,單一的測試技術已無法滿足需求。未來PCBA加工的測試策略將是多項技術的融合。例如,在生產(chǎn)線上,可以先用3D-SPI確保錫膏質量,再用3D-AOI檢測貼裝,最后用AXI對關鍵的BGA元器件進行全面掃描。

 

隨著人工智能和機器學習技術的加入,這些檢測設備將變得更加智能。它們能夠從海量數(shù)據(jù)中學習并自動識別更復雜的缺陷,甚至可以根據(jù)檢測數(shù)據(jù)預測生產(chǎn)線的潛在問題。這些新興測試技術不僅提升了測試的準確性和效率,更是確保高復雜度PCBA產(chǎn)品在嚴苛環(huán)境下穩(wěn)定可靠的關鍵,為整個PCBA加工行業(yè)開辟了新的發(fā)展道路。


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